高壓加速老化試驗機性能：

加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓,、負荷.等)，加快試驗過程,，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間,。

用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

隨著半導體可靠性的提高,，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效,，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多,。為了提高試驗效率、減少試驗時間,，采用了**的壓力蒸煮鍋試驗方法,。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。

注意事項：USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應力試驗)

高壓加速老化試驗機適用行業(yè)：

廣泛應用于半導體,，多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性

加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓,、負荷.等)，加快試驗過程,，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間,。
用於調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,，使用壽命的故障分佈函數(shù)呈什麼樣的形狀,，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。請與我聯(lián)系   瞿修偉     電話：18819755346   QQ：2735873126